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2010年8月 2010年9月1日(水)〜3日(金)幕張メッセ国際展示場で開催されます分析展2010に出展します。場所はmini / ソリューションコーナー S-04です。
2010年8月 液体クロマトグラフー質量分析計(LC/MS/MS)を導入しました。
2010年6月 環境省の「絶縁油中の微量PCBに関する簡易測定法マニュアル(第1版)」に基づく、絶縁油中の微量PCBの定量を開始しました。
2010年4月 特許庁の平成22年度中小企業等特許先行技術調査支援事業の調査事業者に選定されました。
2009年10月 DGF Standard Method C-III 18(09)に基づく、食用油中の3-MCPDエステル含有量の分析を開始しました。
2009年10月 テクノタイムズ社発刊の月刊ディスプレイ2009年10月号(vol.15、No.10、P16)に「LCD用光学補償フィルムの材料設計と最近の動向」についての解説記事が掲載されました。
2009年8月 ダイオキシン類自動前処理装置を導入しました。
2009年6月 品質マネジメントシステムに関する ISO9001:2008の認証を更新いたしました。
2009年4月 特許庁の平成21年度中小企業等特許先行技術調査支援事業の調査事業者に選定されました。
2008年12月 顕微赤外分光分析装置(μIR)を追加導入しました。
2008年10月 ICP−MS1台を更新しました。
2008年9月 微小異物ハンドリング装置(マニピュレーター)を導入しました。
2008年8月 デジタルマイクロスコープを更新しました。
2008年7月 自動アルカリ溶融装置を導入しました。
2008年4月 微小断面研磨装置(クロスセクションポリッシャー:CP)を導入しました。
2008年4月 特許庁の平成20年度中小企業等特許先行技術調査支援事業者に選ばれました。
2007年7月 微小部分析のサンプリング技術強化のため、レーザーによるマイクロマーキング装置を取得しました。
2007年6月 化学物質放散試験(小形チャンバー法、JIS A1901:2003他)に基づくISO/IEC17025:2005の認証を取得し、製品評価技術基盤機構(NITE)により、JNLA登録業者に登録されました。
登録番号:070248JP  登録日:2007年6月27日
2007年4月 汎用GPCを更新しました。
2007年4月 特許庁の平成19年度中小企業等特許先行技術調査支援事業者に選ばれました。

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