元素分析
- 全自動元素分析装置（EA）
- エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（EDX-XRF）
- 波長分散型蛍光Ｘ線分析装置（WDX-XRF）
- 原子吸光分析分析装置（AA）
- 誘導結合プラズマ原子発光分光分析装置（ICP-AES）
- 誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS）
- マイクロウェーブ加熱分解装置
- 自動アルカリ溶融装置
- 全有機炭素分析装置（TOC）
形態観察
- 透過型電子顕微鏡（TEM）
- 走査透過型電子顕微鏡（STEM（EDX，EELS))
- 超高分解能走査型電子顕微鏡・Ｘ線分析（FE-SEM・EDX）
- 集束イオンビーム加工観察装置（FIB）
- 凍結割断レプリカ作製装置
- ブロードイオンビーム断面研磨装置
- イオンミリング装置
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）
化合物構造解析
- 紫外可視・近赤外分光分析計（UV-VIS）
- フーリエ変換型赤外分光光度計（FT-IR）
- フーリエ変換型顕微赤外分光光度計（FT-μ-IR）
- 全反射式赤外分光光度計（ATR-IR)
- 顕微ラマン分光装置（ラマンイメージング顕微鏡）
- 斜め切削装置（SAICAS）
- クライオプローブ付き核磁気共鳴分析装置（NMR）
- 核磁気共鳴分析装置（NMR）
- 固体核磁気共鳴分析装置
- Ｘ線回析装置（XRD）
- 小角X線散乱装置（SAXS）
- マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析計（MALDI/MS）
クロマトグラフ分析
- ガスクロマトグラフ（FID-GC、TCD-GC、FPD-GC、FTD-GC、ECD-GC）
- ガスクロマトグラフ質量分析装置（GC/MS）
- ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析装置（HS-GC/MS）
- 加熱脱着ガスクロマトグラフ質量分析装置（ATD-GC/MS）
- スニッフィングガスクロマトグラフ質量分析装置（スニッフィングGC/MS）
- スニッフィングガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置（スニッフィング-GC-TOFMS）
- ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析装置（GC-TOFMS）
- マルチショット・パイロライザー
- 発生ガス濃縮装置（マイクロチャンバー）
- 熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置（Py-GC/MS）
- 高分解能ガスクロマトグラフ質量分析装置（HR-GC/MS）
- 全自動大気濃縮-ガスクロマトグラフ／質量分析装置
- マルチ反応リアルタイム質量分析計（SIFT-MS）
- 高速液体クロマトグラフ分析装置（HPLC）
- 液体クロマトグラフ飛行時間型質量分析装置（LC-TOFMS）
- 液体クロマトグラフイオントラップ型質量分析装置（LC-MS）
- 液体クロマトグラフトリプル四重極型質量分析装置（LC-MS/MS）
- ゲル浸透クロマトグラフ分析装置（GPC）
- 高温ゲル浸透クロマトグラフ分析装置（高温GPC）
- GPC-多角度レーザー光散乱検出装置（GPC-MALLS）
- イオンクロマトグラフ分析装置（IC）
- キャピラリー電気泳動装置（CE装置）
表面分析
熱分析
- 熱重量示差熱分析装置（TG-DTA）
- 熱重量・質量分析装置（TG-MS）
- 熱重量・ガスクロマトグラフ質量分析装置（TG-GC/MS）
- 示差走査熱量計（DSC）
- 熱機械分析装置（TMA）
- キセノンフラッシュアナライザー（LFA）
燃焼ガス分析、加熱発生ガス分析
VOC類放散試験
環境負荷物質の測定
水分分析