カネカグループの分析会社

分析事例

低分子量環状シロキサンの定量分析

電子部品などにシリコーン樹脂はよく用いられていますが、これに含まれる低分子量環状シロキサンが電子部品の接点障害の原因になります。このため、試料を加熱した際に発生する環状シロキサンの量を把握することは重要です。環状シロキサンの種類と量は、加熱脱着(ATD)-GC/MS法により評価できます。今回は、市販のシリコーンゴムを試料として、300℃×30分加熱したときに発生する低分子環状シロキサンの定性・定量分析を行いました。得られたGC/MS-トータルカレントイオンクロマトグラム(TIC)を図1に示します。

図1 ATD-GC/MS-TIC
図1 ATD-GC/MS-TIC

シリコーンゴムから発生する環状ジメチルシロキサンの3量体(D3 Mw 222)から24量体(D24 Mw1776)までを同定することができました。環状ジメチルシロキサン4量体(D4)の標品を測定して、D4の検量線を作成し(図2)、D4換算で試料中のD3〜D24の定量を行いました(表1)。

図2 D4検量線
図2 D4検量線

表1 D4換算による環状シロキサン定量結果(μg/g)

定量成分定量結果定量成分定量結果
D3152D14350
D445D15370
D514D16440
D68D17470
D79D18530
D810D19600
D915D20660
D1025D21710
D1149D22660
D12123D23510
D13260D24340

検量線の直線性は良好であり、試料から発生した環状シロキサンの発生量を把握することができました。ATD-GC/MS法では、少量の試料を用いて、種々の樹脂から発生するガスの定性・定量が可能です。

Webからのお問い合わせ
お電話 / FAXでのお問い合わせ

株式会社カネカテクノリサーチ

大阪本社 営業部 TEL. 06-6226-4350  FAX. 06-6226-5517
東京営業所 TEL. 03-5297-5201  FAX. 03-3256-7860
名古屋営業所 TEL. 052-959-5766  FAX. 052-959-5760

営業時間 9:00~17:40(土・日・祝日は除く)

ページの先頭へ