Ｘ線回析装置X-Ray Diffractometer（XRD）

測定原理

物質に対してX線を照射すると、各原子から散乱X線が生じます。結晶性の物質（原子、分子等が規則的に配列した物質）にX線を照射すると、図1に示すBragg条件を満たす場合に各原子からの散乱X線が互いに干渉し強め合い、回折X線として検出されます。X線回折（XRD）分析では、試料表面に対してX線源と検出器の角度（θ）を同期して走査することにより、結晶構造を反映した回折プロファイルを取得します。

図1 Braggの回折条件

適用事例

XRDの回折パターンは各物質固有のものであり、既知物質であればデータベース検索により物質の同定が可能です。また、結晶化度、結晶の大きさ、配向等の結晶に関する情報の取得も可能です。

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