分析事例
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表面分析
表面分析
AR-XPSによるSiウエハの深さ方向分析
容器印刷ムラの原因解析
有機EL材料の深さ方向分析
XPSによるPETの化学結合状態評価
化学修飾を用いたXPSによる有機材料の表面官能基の分析
XPSによる酸化膜付Siウエハの深さ方向分析
Ar-GCIBを用いたXPSによるポリイミドフィルムの表面分析
タッチパネルの積層界面領域での化学結合状態分析(SAICAS-XPS)
ハードコート中のナノシリカの分散状態の評価(SAICAS)
スイッチ接点部表面における低分子量シロキサン付着の評価(XPS)
ナノシリカ表面のシラノール基の分析(化学修飾-XPS)
加熱による試料表面での金属元素の化学状態分析(XPS)
リチウムイオン電池負極の大気非曝露XPS分析(XPS)